晶振外壳目标分析及检测流程介绍与作用

一、晶振外壳目标分析及检测流程介绍
晶振外壳的形状类似于饭盒，较长处约为11mm，较宽处约为4.5mm，共有6个面需要进行检测。经过对小型冲压件生产原理的分析结合厂家提供的大量次品样品，可以认为它的缺陷主要分布于两个位置：内底面和侧边。其中内底面的缺陷往往是由冲压模具引起的凹陷以及划伤，而侧边的缺陷全部为穿孔破损缺陷，位置也集中分布于弧顶面或者弧顶面与侧面的连接处。由于缺陷位置差异较大，因此需要针对其形状特点分别设计不同的光源和检测算法。
对于分布于内底面的凹陷和划伤，利用环形荧光灯作为光源，使晶振外壳和镜头都处于光源圆心的垂直轴线处，并采用高角度漫照射，可以保护内底面深受均匀的光照，较大限度地减弱了光照不均匀所产生的明暗变化，也避免了侧边在底面上投射下阴影而造成的检测误差。
弧顶面是一个接近半圆的弧形，对于这类大曲率的金属物体表面检测，较理想的方案是使用同轴照明。
但是目前市场上商品化的同轴照明系统都很昂贵，选用此类光源固然可以优良降低检测难度，但是随之带来了系统成本的大幅上扬，不符合此系统低成本的研制初衷。而自制的同轴照明系统，成像效果与商业产品相去甚远。经过对多种类型光源的比对实验，较终确定采用低角度照明方式。此种照明方式能较大程度地凸现目标区域，而且对组件无特别要求，制作简单。
二、晶振外壳的作用
晶振外壳接地是为了达到什么目的?干扰。晶振的金属外壳接地后就相当于给里面的晶体装了一个全金属圈封闭的金属屏蔽罩，从电磁学上来讲，外面的辐射信号要穿越这样的金属屏蔽罩是很困难的，也就实际效果为主了晶振的工作环境，提高了其抗干扰的能力。
晶振外壳对晶振的性能影响力有多大?晶体振荡器被广泛用于各种模拟和数字电路中作为基准时钟源，其质量的好坏直接影响到电路工作状况，而晶振外壳(也称晶振帽)冲压品质是影响晶振性能的主要因素之一。
晶振外壳恒熙电子晶振外壳采用冲床连续冲压成型，经大量观察和分析发现，主要缺陷有内底面与顶面的凹坑、内底面与顶面的划痕，侧面裂口和侧面挠曲。之前的研究者针对前3种缺陷，应用计算机视觉检测技术设备了晶振外壳缺陷检测系统。侧面挠曲严重同样可以影响晶振的质量，是指外壳主要侧面不平行。理论上这种侧面的挠曲缺陷使得本来与光源平行的内侧面发生小角度倾斜，其在图像上的突出表现是晶振外壳凸缘内侧边缘变粗和不平行。
晶振外壳的表面质量对晶振的性能有较大的影响。针对工业现场中晶振外壳挠曲缺陷的特点，我们可以检测晶振外壳内侧边缘间的距离，如果某连续的一段检测值超出合格范围，就判定该零件不符合要求，即存在挠曲缺陷。
晶振振荡器外壳生产厂家滤波器的选择要注意其中截止频率；滤波器的额定电压；滤波器的插入损耗；滤波器的额定电流；滤波器的体积等方面。滤波器在正常工作时能够长时间流过的电流值，额定电流由滤波器的引线直径决定，线径越大，额定电流越大。
对于滤波器组件，额定电流还与电感线圈的饱和特性有关，当电流超过额定电流时，东莞晶振外壳，滤波器的性能会下降。滤波器的插入损耗大于3dB的频率点称为滤波器的截止频率，当频率超过截止频率时，滤波器就进入了阻带，在阻带，干扰信号会受到较大的衰减。根据使用滤波器的场合不同（信号电缆滤波还是电源线滤波），晶振外壳，可以用两个方法来确定滤波器的截止频率。
在对信号电缆进行滤波时，根据效果优良信号的带宽来确定，截止频率要大于信号的带宽，这样才能保护有用信号不被衰减。在对电源线或直流信号线，滤波时，由于效果优良信号的频率很低，信号失真的问题不是主要因素，龙岗晶振外壳，因此主要根据干扰信号的频率来定，要使干扰频率全部落在滤波器的阻带内。